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    JET-300NTict在線(xiàn)測試儀(捷智JET-300NT)

    時(shí)間:2021-11-03 流量:783

    JET-300NTict在線(xiàn)測試儀(捷智JET-300NT)

    工廠(chǎng)有ict在線(xiàn)測試儀現貨,并備有樣機演示,歡迎參觀(guān)指導!  

    JET-300NT在線(xiàn)測試儀(IN CIRCUIT TESTER)是經(jīng)由量測電路板上所有零件,包括電阻、電容、電感、二極體、電晶體、FET、SCR、LED 和IC等, 檢測出電路板產(chǎn)品的各種缺點(diǎn)諸如 : 線(xiàn)路短路、斷路、缺件、錯件、零件不良或裝配不良等, 並明確地指出缺點(diǎn)的所在位置, 幫助使用者確保產(chǎn)品的品質(zhì), 並提高不良品檢修效率. 它還率先使用可用數億次開(kāi)關(guān)的磁簧式繼電器(REED RELAY), 是當今測試涵蓋率較高, 測試較穩定, 使用較方便, 提供資料較齊全的在線(xiàn)測試機.

    以下是JET-300ICT在線(xiàn)測試儀的產(chǎn)品特性

    硬體規格

    REED RELAY的掃描板
    JET-300NT在線(xiàn)測試儀的掃描板採用了可耐用二億次的REED RELAY,徹底解決了ICT 掃描板容易損壞的問(wèn)題, 由於REED RELAY 的應用,使JET-300在性能上大有改善。諸如:

    Zener diode 測試電壓可達50v,所有測試點(diǎn)皆可使用。
    小電容和小電感量測較準確和穩定,較不受溫度的影響。
    電容極性的可偵測率較用CMOS RELAY時(shí)大為提高。
    可耐高壓又有殘存電壓偵測功能,掃描板受到充分的保護。
    配置功能測試的可行性較高。
    Agilent TestJet Technology
    美國安捷倫公司針對SMD IC接腳開(kāi)路難以完整偵測的問(wèn)題,成功的研發(fā)出Agilent TestJet Technology的技術(shù)以因應。本公司在取得安捷倫公司的專(zhuān)利授權後,已於JET-300 ICT 系統上配備了此技術(shù),大幅提升了數位電路板的可偵測率。電腦主機板、介面卡或傳真機、數據機的機板皆可得到滿(mǎn)意的測試效果。其應用上的優(yōu)點(diǎn)如下:

    Agilent TestJet Technology的功能是利用量測一個(gè)銅箔板與IC腳框(Frame) 之間的電容量來(lái)偵測接腳的斷路與否。此技術(shù)無(wú)需撰寫(xiě)任何程式,即可做正確而迅速的測試。
    Agilent TestJet Technology可測試各種不同包裝的IC, 如 Insertion type,PLCC type,QFP type,TAB type,PGA type (無(wú)接地者),BGA type (OMPAC)等都可測試。
    Agilent TestJet Technology也可用來(lái)偵測各種插座的接腳斷路,不論是Insertion type或是 SMD type皆可偵測。
    寬頻而準確的相位分離量測法
    對於在RC或RL並聯(lián)電路中的R.L.C. 可用相位測量法,分別量出其零件值,由於信號源頻率寬廣(100Hz到1MHz),因此可以偵測的範圍優(yōu)於一般的ICT,像下圖線(xiàn)路中的零件都可以準確量測。

    三端點(diǎn)、四端點(diǎn)量測
    JET-300NT在線(xiàn)測試儀可對三端點(diǎn)的零件如 TRANSISTOR,DIGITAL TRANSISTOR,FET,SCR等?;蛩亩它c(diǎn)零件如 PHOTO COUPLER,做正確的測試,如有反插或零件損壞,必可測出。TRANSISTOR的β值也可量測。

    電解電容極性測試
    以三端點(diǎn)法偵測鋁質(zhì)電解電容極性反插,可測率100%;以測漏電流方式偵測電解電容極性反插,可測率極高。

    軟體系統

    JET-300NT在線(xiàn)測試儀擁有追趕一般ICT的軟體功能,無(wú)論是在測試前的程式製作支援軟體, 或是測試後的不良資訊和資料分析,都有高水準的表現。在微軟中文視窗環(huán)境下執行的系統程式,操作容易,功能強大。

    較差零件(焊點(diǎn))排行榜
    系統可列印出不良數較多的零件(前十名)和不良次數較多的焊點(diǎn)( 前十點(diǎn))供廠(chǎng)商做品質(zhì)控制或製程改善的參考。

    測試資料統計的日報表和月報表
    圖表上半的長(cháng)條圖用以顯示當月份每日累積OPEN/SHORT,零件不良率及整個(gè)測試的可接受率。圖表的下半派圖用以清楚明瞭地顯示當日各不良原因的百分比。

    網(wǎng)路即時(shí)監控系統
    如果把多臺ICT連到內部網(wǎng)路系統 ,則每一臺ICT的測試統計資料都可以在網(wǎng)路上的任何一臺電腦上顯示,管理者可以很方便地隨時(shí)查看生產(chǎn)線(xiàn)的狀況。

    網(wǎng)路錯誤訊息查詢(xún)系統
    只要把ICT 和檢修站都連到內部網(wǎng)路系統, 則在檢修站就可以檢視到不良板的所有錯誤訊息,包括:打印機的印出訊息和錯誤圖形顯示。

    待測板圖形顯示功能
    可在待測板不良發(fā)生時(shí),明白顯示不良零件或焊點(diǎn)的位置,亦可在零件位置查詢(xún)時(shí)顯示零件的位置,此功能可大大縮短不良品檢修的時(shí)間和程式調適的時(shí)間。如果廠(chǎng)內有網(wǎng)路連線(xiàn)系統,則此圖形亦可在維修站的螢幕上顯示出來(lái)。

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